База данных: Каталог IBIS
Беті 1, Нәтижелерін: 4
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
К44
Киселев, В. А.
Экситонная спектроскопия приповерхностной области полупроводников : монография / В. А. Киселев, Б. В. Новиков, А. Е. Чередниченко ; Санкт-Петербургский гос. ун-т , Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН. - 2-е изд., испр. и доп. - СПб. : Издательство С.-Петербургского университета, 2003. - 242 с. : ил. - ISBN 5-288-02876-1 : 1350.00 тг
Рубрики: физика--спектроскопия (физ.)
Кл.слова (ненормированные):
экситон -- аномалии -- модели -- зоны -- отражения -- локализация -- анализ -- оптические -- фотопроводимость
Доп.точки доступа:
Новиков, Б.В.
Чередниченко, А.Е.
Санкт-Петербургский гос. ун-т
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
К44
Киселев, В. А.
Экситонная спектроскопия приповерхностной области полупроводников : монография / В. А. Киселев, Б. В. Новиков, А. Е. Чередниченко ; Санкт-Петербургский гос. ун-т , Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН. - 2-е изд., испр. и доп. - СПб. : Издательство С.-Петербургского университета, 2003. - 242 с. : ил. - ISBN 5-288-02876-1 : 1350.00 тг
| ГРНТИ | |
| УДК |
Рубрики: физика--спектроскопия (физ.)
Кл.слова (ненормированные):
экситон -- аномалии -- модели -- зоны -- отражения -- локализация -- анализ -- оптические -- фотопроводимость
Доп.точки доступа:
Новиков, Б.В.
Чередниченко, А.Е.
Санкт-Петербургский гос. ун-т
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
2.
Подробнее
Е 59
Ельяшевич, М. А.
Атомная и молекулярная спектроскопия : [в 3-х ч.] / М. А. Ельяшевич. - М. : КомКнига, 2007 - .
[Ч. 2 : Атомная спектроскопия : научное издание. - 4-е изд., стер. - М., 2007. - 415 с. - ISBN 978-5-484-00886-5. - ISBN 5-484-00886-7 : 3200.00 тг
Рубрики: физика--спектроскопия (физ.)
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- одноэлектронные -- рентгеновские -- приложения
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Е 59
Ельяшевич, М. А.
Атомная и молекулярная спектроскопия : [в 3-х ч.] / М. А. Ельяшевич. - М. : КомКнига, 2007 - .
[Ч. 2 : Атомная спектроскопия : научное издание. - 4-е изд., стер. - М., 2007. - 415 с. - ISBN 978-5-484-00886-5. - ISBN 5-484-00886-7 : 3200.00 тг
| ГРНТИ | |
| УДК |
Рубрики: физика--спектроскопия (физ.)
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- одноэлектронные -- рентгеновские -- приложения
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
3.
Подробнее
Е 59
Ельяшевич, М. А.
Атомная и молекулярная спектроскопия: Общие вопросы спектроскопии : научное издание / М. А. Ельяшевич. - 4-е изд., стер. - М. : КомКнига, 2007. - 236 с. - ISBN 978-5-484-00885-8. - ISBN 5-484-00885-9
Рубрики: физика--спектроскопия (физ.)
Кл.слова (ненормированные):
энергия -- уровни -- систематика -- приложения
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
Е 59
Ельяшевич, М. А.
Атомная и молекулярная спектроскопия: Общие вопросы спектроскопии : научное издание / М. А. Ельяшевич. - 4-е изд., стер. - М. : КомКнига, 2007. - 236 с. - ISBN 978-5-484-00885-8. - ISBN 5-484-00885-9
| ГРНТИ | |
| УДК |
Рубрики: физика--спектроскопия (физ.)
Кл.слова (ненормированные):
энергия -- уровни -- систематика -- приложения
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
4.
Подробнее
К 65
Конюхов, В. Ю.
Методы исследования материалов и процессов : учебное пособие для студентов вузов / В. Ю. Конюхов, И. А. Гоголадзе, З. В. Мурга ; УМО высших учебных заведений РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - 226 с. : ил. - (Университеты России). - ISBN 978-5-534-05475-0 : 3993.92 тг
Рубрики: инженерное дело. техника--материаловедение
химия--химия полимеров
химия--анализ химический
физика--рентгенография (физ.)
физика--спектроскопия (физ.)
химия--хроматография
химическая технология
Кл.слова (ненормированные):
рефрактометрия -- кондуктометрия -- дифракция -- анализ -- спектр -- поляризация -- информатизация -- полиграфический материал -- автоматизация -- исследования -- технология
Доп.точки доступа:
Гоголадзе, И.А.
Мурга, З.В.
УМО высших учебных заведений РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий
Экземпляры всего: 10
Книгохранение (1), Абонемент гл.корпус (8), ЭЧЗ гл.корпус (1)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент гл.корпус (8), ЭЧЗ гл.корпус (1)
К 65
Конюхов, В. Ю.
Методы исследования материалов и процессов : учебное пособие для студентов вузов / В. Ю. Конюхов, И. А. Гоголадзе, З. В. Мурга ; УМО высших учебных заведений РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - 226 с. : ил. - (Университеты России). - ISBN 978-5-534-05475-0 : 3993.92 тг
| ГРНТИ | |
| УДК |
Рубрики: инженерное дело. техника--материаловедение
химия--химия полимеров
химия--анализ химический
физика--рентгенография (физ.)
физика--спектроскопия (физ.)
химия--хроматография
химическая технология
Кл.слова (ненормированные):
рефрактометрия -- кондуктометрия -- дифракция -- анализ -- спектр -- поляризация -- информатизация -- полиграфический материал -- автоматизация -- исследования -- технология
Доп.точки доступа:
Гоголадзе, И.А.
Мурга, З.В.
УМО высших учебных заведений РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий
Экземпляры всего: 10
Книгохранение (1), Абонемент гл.корпус (8), ЭЧЗ гл.корпус (1)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент гл.корпус (8), ЭЧЗ гл.корпус (1)
Беті 1, Нәтижелерін: 4