Электрондық каталогта іздеу


 

База данных: Каталог IBIS

Беті 1, Нәтижелерін: 3

Отмеченные записи: 0

534.2
М 13

Маев, Р. Г.
    Акустическая микроскопия : научное издание / Р. Г. Маев. - М. : Торус Пресс, 2005. - 383 с. : ил. - ISBN 5-94588-031-0

ГРНТИ
УДК

Рубрики: физика--акустические волны (физика)

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая -- поле -- исследование -- вязкоупругие -- композиты -- полимерные -- композиционные -- материалы -- биологические -- ткани
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

Маев, Р.Г. Акустическая микроскопия [Текст] : научное издание / Р. Г. Маев, 2005. - 383 с.

1.

Маев, Р.Г. Акустическая микроскопия [Текст] : научное издание / Р. Г. Маев, 2005. - 383 с.


534.2
М 13

Маев, Р. Г.
    Акустическая микроскопия : научное издание / Р. Г. Маев. - М. : Торус Пресс, 2005. - 383 с. : ил. - ISBN 5-94588-031-0

ГРНТИ
УДК

Рубрики: физика--акустические волны (физика)

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая -- поле -- исследование -- вязкоупругие -- композиты -- полимерные -- композиционные -- материалы -- биологические -- ткани
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

537.53
С 42


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала ; УМО по образованию в области металлургии. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : табл. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 3604.00 тг

ГРНТИ
УДК

Рубрики: физика--электронная микроскопия (электричество)

Кл.слова (ненормированные):
детекторы -- идентификация -- спектрометры -- дефекты -- исследование -- разрушение
Доп.точки доступа:
Криштал, М.М.
Ясников, И.С.
Полунин, В.И.
Филатов, А.М.
Ульяненков, А.Г.
Криштал, М.М. \ред.\
УМО по образованию в области металлургии

Экземпляры всего: 5
Книгохранение (5)
Свободны: Книгохранение (5)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала, 2009. - 206 с.

2.

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала, 2009. - 206 с.


537.53
С 42


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала ; УМО по образованию в области металлургии. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : табл. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 3604.00 тг

ГРНТИ
УДК

Рубрики: физика--электронная микроскопия (электричество)

Кл.слова (ненормированные):
детекторы -- идентификация -- спектрометры -- дефекты -- исследование -- разрушение
Доп.точки доступа:
Криштал, М.М.
Ясников, И.С.
Полунин, В.И.
Филатов, А.М.
Ульяненков, А.Г.
Криштал, М.М. \ред.\
УМО по образованию в области металлургии

Экземпляры всего: 5
Книгохранение (5)
Свободны: Книгохранение (5)

621-181
А 65

Андреященко, В. А.
    Методы исследования металлических наносистем : учебное пособие для студентов, магистрантов и докторантов / В. А. Андреященко ; М-во образования и науки РК, Карагандинский технический университет имени Абылкаса Сагинова, Кафедра "Нанотехнологии и металлургия". - Караганда : КарГТУ, 2016. - 96 с. - (Рейтинг). - ISBN 978-601-315-180-9 : 295.00 тг
Есть цифровая копия: http://elib.kstu.kz/fulltext//Uchebnye posobiya/NTM/2017/Andreyashchenko.pdf. - [Б. м. : б. и.]

ГРНТИ
УДК

Рубрики: общее машиностроение--нанотехнологии

Кл.слова (ненормированные):
рентгеноструктурный -- анализ -- микроскопия -- сканирующая -- просвечивающая -- оптическая -- лазерные -- нанопорошки -- аналитическое -- оборудование

Доп.точки доступа:
М-во образования и науки РК
Карагандинский технический университет имени Абылкаса Сагинова. Кафедра "Нанотехнологии и металлургия"

Экземпляры всего: 50
Книгохранение (3), Абонемент 1 корпус (47)
Свободны: Книгохранение (3), Абонемент 1 корпус (47)

Андреященко, В.А. Методы исследования металлических наносистем [Текст] : учебное пособие для студентов, магистрантов и докторантов / В. А. Андреященко, 2016. - 96 с.

3.

Андреященко, В.А. Методы исследования металлических наносистем [Текст] : учебное пособие для студентов, магистрантов и докторантов / В. А. Андреященко, 2016. - 96 с.


621-181
А 65

Андреященко, В. А.
    Методы исследования металлических наносистем : учебное пособие для студентов, магистрантов и докторантов / В. А. Андреященко ; М-во образования и науки РК, Карагандинский технический университет имени Абылкаса Сагинова, Кафедра "Нанотехнологии и металлургия". - Караганда : КарГТУ, 2016. - 96 с. - (Рейтинг). - ISBN 978-601-315-180-9 : 295.00 тг
Есть цифровая копия: http://elib.kstu.kz/fulltext//Uchebnye posobiya/NTM/2017/Andreyashchenko.pdf. - [Б. м. : б. и.]

ГРНТИ
УДК

Рубрики: общее машиностроение--нанотехнологии

Кл.слова (ненормированные):
рентгеноструктурный -- анализ -- микроскопия -- сканирующая -- просвечивающая -- оптическая -- лазерные -- нанопорошки -- аналитическое -- оборудование

Доп.точки доступа:
М-во образования и науки РК
Карагандинский технический университет имени Абылкаса Сагинова. Кафедра "Нанотехнологии и металлургия"

Экземпляры всего: 50
Книгохранение (3), Абонемент 1 корпус (47)
Свободны: Книгохранение (3), Абонемент 1 корпус (47)

Беті 1, Нәтижелерін: 3

 

Барлық түсімдер 
Немесе қызығушылық танытқан айыңызды таңдаңыз