База данных: Каталог IBIS
Беті 2, Нәтижелерін: 11
Отмеченные записи: 0
11.
Подробнее
С 42
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала ; УМО по образованию в области металлургии. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : табл. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 3604.00 тг
Рубрики: физика--электронная микроскопия (электричество)
Кл.слова (ненормированные):
детекторы -- идентификация -- спектрометры -- дефекты -- исследование -- разрушение
Доп.точки доступа:
Криштал, М.М.
Ясников, И.С.
Полунин, В.И.
Филатов, А.М.
Ульяненков, А.Г.
Криштал, М.М. \ред.\
УМО по образованию в области металлургии
Экземпляры всего: 5
Книгохранение (5)
Свободны: Книгохранение (5)
С 42
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала ; УМО по образованию в области металлургии. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : табл. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 3604.00 тг
| ГРНТИ | |||
| УДК |
Рубрики: физика--электронная микроскопия (электричество)
Кл.слова (ненормированные):
детекторы -- идентификация -- спектрометры -- дефекты -- исследование -- разрушение
Доп.точки доступа:
Криштал, М.М.
Ясников, И.С.
Полунин, В.И.
Филатов, А.М.
Ульяненков, А.Г.
Криштал, М.М. \ред.\
УМО по образованию в области металлургии
Экземпляры всего: 5
Книгохранение (5)
Свободны: Книгохранение (5)
Беті 2, Нәтижелерін: 11