База данных: Каталог IBIS
Беті 1, Нәтижелерін: 11
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
620.18(03)
Э62
Энгель, Л.
Растровая электронная микроскопия. Разрушение : справочник: пер. с нем. / Л. Энгель, Г. Клингеле ; под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1986. - 232 с. : ил. - 1.60 р.
Перевод заглавия: Rasterelektronenmikroskopsche. Untersuchungen von Metallschaden
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- металлография -- материалы -- исследования -- анализ -- структура -- деформация
Доп.точки доступа:
Клингеле, Г.
Бернштейн, М.Л. \ред.\
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
Э62
Энгель, Л.
Растровая электронная микроскопия. Разрушение : справочник: пер. с нем. / Л. Энгель, Г. Клингеле ; под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1986. - 232 с. : ил. - 1.60 р.
Перевод заглавия: Rasterelektronenmikroskopsche. Untersuchungen von Metallschaden
ГРНТИ | ||||
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- металлография -- материалы -- исследования -- анализ -- структура -- деформация
Доп.точки доступа:
Клингеле, Г.
Бернштейн, М.Л. \ред.\
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
2.
Подробнее
537.53
В19
Васичев, Б. Н.
Электронная микроскопия : научное издание / Б.Н. Васичев. - М. : Знание, 1980. - 64 с
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
В19
Васичев, Б. Н.
Электронная микроскопия : научное издание / Б.Н. Васичев. - М. : Знание, 1980. - 64 с
ГРНТИ | |
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
3.
Подробнее
539.2
Б 25
Бароне, А.
Эффект Джозефсона. Физика и применение: пер. с англ. : научное издание / А. Бароне, ДЖ. Патерно. - М. : Мир, 1984. - 639 с. - Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- СВЕРХПРОВОДИМОСТЬ -- ТЕОРИЯ -- МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа:
Патерно, ДЖ.
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Б 25
Бароне, А.
Эффект Джозефсона. Физика и применение: пер. с англ. : научное издание / А. Бароне, ДЖ. Патерно. - М. : Мир, 1984. - 639 с. - Б. ц.
ГРНТИ | ||
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- СВЕРХПРОВОДИМОСТЬ -- ТЕОРИЯ -- МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа:
Патерно, ДЖ.
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
4.
Подробнее
539.2
Т56
Томас, Г.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж ; под ред. Б. К. Вайнштейна. - М. : Наука, 1983. - 320 с. - Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- МАТЕРИАЛЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа:
Гориндж, М.Дж.
Вайнштейн, Б.К. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Т56
Томас, Г.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж ; под ред. Б. К. Вайнштейна. - М. : Наука, 1983. - 320 с. - Б. ц.
ГРНТИ | |
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- МАТЕРИАЛЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа:
Гориндж, М.Дж.
Вайнштейн, Б.К. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
5.
Подробнее
537.53=қаз
Ш13
Шабанова, Т. А.
Электрондық микроскопия : оқу құралы / Т. А. Шабанова, Г. Қ. Тәжкенова, Р. М. Мансұрова ; Әл-Фараби атындағы Қазақ ұлттық университеті. - Алматы : Қазақ университеті, 2004. - 64 б. : сурет. - ISBN 9965-12-665-8 : 340.00 тг
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Доп.точки доступа:
Тәжкенова, Г.Қ.
Мансұрова, Р.М.
Әл-Фараби атындағы Қазақ ұлттық университеті
Экземпляры всего: 3
Книгохранение (3)
Свободны: Книгохранение (3)
Ш13
Шабанова, Т. А.
Электрондық микроскопия : оқу құралы / Т. А. Шабанова, Г. Қ. Тәжкенова, Р. М. Мансұрова ; Әл-Фараби атындағы Қазақ ұлттық университеті. - Алматы : Қазақ университеті, 2004. - 64 б. : сурет. - ISBN 9965-12-665-8 : 340.00 тг
ГРНТИ | ||
УДК |
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Доп.точки доступа:
Тәжкенова, Г.Қ.
Мансұрова, Р.М.
Әл-Фараби атындағы Қазақ ұлттық университеті
Экземпляры всего: 3
Книгохранение (3)
Свободны: Книгохранение (3)
6.
Подробнее
537.53
Ш 12
Шабанова, Т. А.
Курс лекций по электронной микроскопии : учебное пособие / Т. А. Шабанова, Р. М. Мансурова ; Казахский государственный национальный университет им. Аль-Фараби. - Алматы : Қазақ университеті, 2004. - 63 с. : ил. - ISBN 9965-12-660-7 : 455.00 тг
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Доп.точки доступа:
Мансурова, Р.М.
Казахский государственный национальный университет им. Аль-Фараби
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Ш 12
Шабанова, Т. А.
Курс лекций по электронной микроскопии : учебное пособие / Т. А. Шабанова, Р. М. Мансурова ; Казахский государственный национальный университет им. Аль-Фараби. - Алматы : Қазақ университеті, 2004. - 63 с. : ил. - ISBN 9965-12-660-7 : 455.00 тг
ГРНТИ | ||
УДК |
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Доп.точки доступа:
Мансурова, Р.М.
Казахский государственный национальный университет им. Аль-Фараби
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
7.
Подробнее
681.7
М 64
Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 5-94836-034-2
Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- атомно-силовые -- магнитно-силовые -- схемы
Доп.точки доступа:
Рос. акад. наук. Ин-т физики микроструктур
Экземпляры всего: 7
Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (5)
Свободны: Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (3)
М 64
Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 5-94836-034-2
ГРНТИ | ||
УДК |
Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- атомно-силовые -- магнитно-силовые -- схемы
Доп.точки доступа:
Рос. акад. наук. Ин-т физики микроструктур
Экземпляры всего: 7
Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (5)
Свободны: Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (3)
8.
Подробнее
537.53
С 38
Синдо, Д.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : монография: пер. с англ. / Д. Синдо, Т. Оикава. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5
Перевод заглавия: Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия -- изображение -- камера -- результат
Доп.точки доступа:
Оикава, Т.
Экземпляры всего: 12
Книгохранение (4), Абонемент 1 корпус (8)
Свободны: Книгохранение (3), Абонемент 1 корпус (8)
С 38
Синдо, Д.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : монография: пер. с англ. / Д. Синдо, Т. Оикава. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5
Перевод заглавия: Analytical Electron Microscopy for Materials Science
ГРНТИ | ||
УДК |
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия -- изображение -- камера -- результат
Доп.точки доступа:
Оикава, Т.
Экземпляры всего: 12
Книгохранение (4), Абонемент 1 корпус (8)
Свободны: Книгохранение (3), Абонемент 1 корпус (8)
9.
Подробнее
681.7
Е 30
Егорова, О.
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О. Егорова. - 2-е изд., перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : вкл. л., ил. - (Мир материалов и технологий). - Загл. обл. : Техническая микроскопия. С микроскопом на "ты". - ISBN 978-5-94836-129-1 : 4300.00 тг
Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы
Кл.слова (ненормированные):
классификация -- исследование -- контрастирование -- качество -- изображение -- методы -- оценки
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
Е 30
Егорова, О.
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О. Егорова. - 2-е изд., перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : вкл. л., ил. - (Мир материалов и технологий). - Загл. обл. : Техническая микроскопия. С микроскопом на "ты". - ISBN 978-5-94836-129-1 : 4300.00 тг
ГРНТИ | ||
УДК |
Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы
Кл.слова (ненормированные):
классификация -- исследование -- контрастирование -- качество -- изображение -- методы -- оценки
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)
10.
Подробнее
537.53
Т 88
Турсунбаева, А. К.
Электронная микроскопия : учебное пособие для студентов специальности 050709 "Металлургия", 050710 "Материаловедение и технология новых материалов", 050706 "Геология и разведка месторождений полезных ископаемых", бакалавров, магистрантов, докторантов / А. К. Турсунбаева, В. С. Портнов, А. Д. Маусымбаева ; М-во образования и науки РК, Карагандинский государственный технический университет. - Караганда : КарГТУ, 2009. - 91 с. : ил. - ISBN 9965-04-447-3 : 295.00 тг.
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные):
геометрическая -- оптика -- абберация -- просвечивающая -- растровая -- микроскоп -- анализ -- геология -- недро
Доп.точки доступа:
Портнов, В.С.
Маусымбаева, А.Д.
М-во образования и науки РК
Карагандинский технический университет имени Абылкаса Сагинова. Кафедра Геология и разведка месторождений полезных ископаемых
Экземпляры всего: 87
Книгохранение (2), ч/з гл.корпус (1), Абонемент гл.корпус (84)
Свободны: Книгохранение (2), ч/з гл.корпус (1), Абонемент гл.корпус (84)
Т 88
Турсунбаева, А. К.
Электронная микроскопия : учебное пособие для студентов специальности 050709 "Металлургия", 050710 "Материаловедение и технология новых материалов", 050706 "Геология и разведка месторождений полезных ископаемых", бакалавров, магистрантов, докторантов / А. К. Турсунбаева, В. С. Портнов, А. Д. Маусымбаева ; М-во образования и науки РК, Карагандинский государственный технический университет. - Караганда : КарГТУ, 2009. - 91 с. : ил. - ISBN 9965-04-447-3 : 295.00 тг.
ГРНТИ | |||
УДК |
Рубрики: физика--микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные):
геометрическая -- оптика -- абберация -- просвечивающая -- растровая -- микроскоп -- анализ -- геология -- недро
Доп.точки доступа:
Портнов, В.С.
Маусымбаева, А.Д.
М-во образования и науки РК
Карагандинский технический университет имени Абылкаса Сагинова. Кафедра Геология и разведка месторождений полезных ископаемых
Экземпляры всего: 87
Книгохранение (2), ч/з гл.корпус (1), Абонемент гл.корпус (84)
Свободны: Книгохранение (2), ч/з гл.корпус (1), Абонемент гл.корпус (84)
Беті 1, Нәтижелерін: 11