Search in the Electronic Catalog


 

База данных: Каталог IBIS

Page 1, Results: 3

Отмеченные записи: 0

681.7
М64

Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / В. Л. Миронов ; РАН, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2004. - 143 с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 5-94836-034-2 : 1800.00 тг

ГРНТИ
УДК

Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
техника -- метод -- твердые -- тела -- наноструктура -- туннельные -- атомно-силовые -- магнитно-силовые
Доп.точки доступа:
РАН. Ин-т физики микроструктур

Экземпляры всего: 3
Книгохранение (3)
Свободны: Книгохранение (3)

Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие / В. Л. Миронов, 2004. - 143 с.

1.

Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие / В. Л. Миронов, 2004. - 143 с.


681.7
М64

Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / В. Л. Миронов ; РАН, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2004. - 143 с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 5-94836-034-2 : 1800.00 тг

ГРНТИ
УДК

Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
техника -- метод -- твердые -- тела -- наноструктура -- туннельные -- атомно-силовые -- магнитно-силовые
Доп.точки доступа:
РАН. Ин-т физики микроструктур

Экземпляры всего: 3
Книгохранение (3)
Свободны: Книгохранение (3)

681.7
М 64

Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 5-94836-034-2

ГРНТИ
УДК

Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- атомно-силовые -- магнитно-силовые -- схемы
Доп.точки доступа:
Рос. акад. наук. Ин-т физики микроструктур

Экземпляры всего: 7
Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (5)
Свободны: Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (5)

Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2005. - 143 с.

2.

Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2005. - 143 с.


681.7
М 64

Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 5-94836-034-2

ГРНТИ
УДК

Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- атомно-силовые -- магнитно-силовые -- схемы
Доп.точки доступа:
Рос. акад. наук. Ин-т физики микроструктур

Экземпляры всего: 7
Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (5)
Свободны: Книгохранение (2), Абонемент гл.корпус (5)

681.7
Е 30

Егорова, О.
    Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О. Егорова. - 2-е изд., перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : вкл. л., ил. - (Мир материалов и технологий). - Загл. обл. : Техническая микроскопия. С микроскопом на "ты". - ISBN 978-5-94836-129-1 : 4300.00 тг

ГРНТИ
УДК

Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
классификация -- исследование -- контрастирование -- качество -- изображение -- методы -- оценки
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)

Егорова, О. Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей [Текст] : научное издание / О. Егорова, 2007. - 357 с.

3.

Егорова, О. Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей [Текст] : научное издание / О. Егорова, 2007. - 357 с.


681.7
Е 30

Егорова, О.
    Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О. Егорова. - 2-е изд., перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : вкл. л., ил. - (Мир материалов и технологий). - Загл. обл. : Техническая микроскопия. С микроскопом на "ты". - ISBN 978-5-94836-129-1 : 4300.00 тг

ГРНТИ
УДК

Рубрики: точная механика. автоматика--микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
классификация -- исследование -- контрастирование -- качество -- изображение -- методы -- оценки
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (2)
Свободны: Книгохранение (2)

Page 1, Results: 3

 

All acquisitions for 
Or select a month