Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов

 

QR code of document

Ratings: 0

621.385
И 88


    Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов : сборник / Научно-исследовательский ин-т метрологии вузов ; ред. В. П. Коротков. - М. : Комитет стандартов, мер и измерительных приборов при Совете Министров СССР, 1969. - 164 с. : ил. - 1.11 р.

ГРНТИ
55.03.07
УДК
621.385

Кл.слова (ненормированные):
ВРЕМЯ -- РАСЧЕТ -- ТЕМПЕРАТУРА
Доп.точки доступа:
Коротков, В.П. \ред.\
Научно-исследовательский институт метрологии вузов

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)